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一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)ZEISS METROTOM 1
借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù),只需一次掃描,任何人都能有效完成復(fù)雜的測(cè)量和檢查任務(wù)。測(cè)量并檢測(cè)接觸式或光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)無法檢測(cè)到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個(gè)巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小,CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室之中,可以一次性完成內(nèi)部測(cè)量和檢查。